图片2

测试

价 格 待议

销 量:

浏览:

测试

待议

产品详情

扫描电子显微镜(SEM

扫描电镜成像是利用细聚焦高能电子束在样件表面激发各种物理信号,如二次电子、背散射电子等,通过相应的检测器来检测这些信号,信号的强度与样品表面形貌有一定的对应关系,因此,可将其转换为视频信号来调制显像管的亮度得到样品表面形貌的图像。

透射电子显微镜(TEM

透射电镜是把经加速和聚焦的电子束投射到非常薄的样件上,电子与样品中的原子碰撞,而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此,可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。

原子力显微镜(AFM

将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,由于针尖***原子与样品表面原子间存在极微弱的作用力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将在垂直于样品的表面方向起伏运动。测出微悬臂对应于扫描各点的位置变化,从而可以获得样品表面形貌的信息。

扫描隧道显微镜(STM

隧道电流强度对针尖和样品之间的距离有着指数依赖关系,根据隧道电流的变化,我们可以得到样品表面微小的起伏变化信息,如果同时对x-y方向进行扫描,就可以直接得到三维的样品表面形貌图,这就是扫描隧道显微镜的工作原理。

 


暂无评价

产品详情

扫描电子显微镜(SEM

扫描电镜成像是利用细聚焦高能电子束在样件表面激发各种物理信号,如二次电子、背散射电子等,通过相应的检测器来检测这些信号,信号的强度与样品表面形貌有一定的对应关系,因此,可将其转换为视频信号来调制显像管的亮度得到样品表面形貌的图像。

透射电子显微镜(TEM

透射电镜是把经加速和聚焦的电子束投射到非常薄的样件上,电子与样品中的原子碰撞,而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此,可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。

原子力显微镜(AFM

将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,由于针尖***原子与样品表面原子间存在极微弱的作用力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将在垂直于样品的表面方向起伏运动。测出微悬臂对应于扫描各点的位置变化,从而可以获得样品表面形貌的信息。

扫描隧道显微镜(STM

隧道电流强度对针尖和样品之间的距离有着指数依赖关系,根据隧道电流的变化,我们可以得到样品表面微小的起伏变化信息,如果同时对x-y方向进行扫描,就可以直接得到三维的样品表面形貌图,这就是扫描隧道显微镜的工作原理。

 


测试
长按识别二维码查看详情
长按图片保存/分享
询盘

在线询盘 更多+
  • 联系人 *

  • 手机 *

  • 描述

  • 提交

  • 验证码
    看不清?换一张
    取消
    确定

咨询内容:


你还没有添加任何产品

加入成功
询盘

在线询盘 更多+
  • 联系人 *

  • 手机 *

  • 描述

  • 提交

  • 验证码
    看不清?换一张
    取消
    确定

咨询内容:


你还没有添加任何产品

加入成功

 

产品中心    |  MEMS加工   |   微流控加工   |   半导体材料   

关于我们    |    新闻中心     |    联系我们     |    网站地图

联系人:刘经理

联系电话:15995725434
联系地址:苏州市吴中区金枫南路1258

扫一扫加好友

  聚图半导体(苏州)有限公司  备案号:苏ICP备2021046367号-1

添加微信好友,详细了解产品
使用企业微信
“扫一扫”加入群聊
复制成功
添加微信好友,详细了解产品
我知道了